反射式膜厚儀可用于測(cè)量半導(dǎo)體鍍膜，手機(jī)觸摸屏ITO等鍍膜厚度，PET柔性涂布的膠厚等厚度，LED鍍膜厚度，建筑玻璃鍍膜厚度及其他需要測(cè)量膜厚的場(chǎng)合。A3-SR-100S可用于測(cè)量2納米到3000微米的膜厚，測(cè)量精度達(dá)到0.1納米。 在折射率未知的情況下，A3-SR-100S還可用于同時(shí)對(duì)折射率和膜厚進(jìn)行測(cè)量。配手持式探頭,A3-SR-100S可以用來(lái)一鍵式測(cè)量車(chē)燈罩表面硬化膜(包括過(guò)渡層)和背面的防霧層,精度達(dá)到0.02um, 只需1秒鐘,還可以測(cè)量?jī)?nèi)飾件,外飾件的鋁陽(yáng)極氧化層和漆層的厚度,精度達(dá)到0.02um

　　反射式膜厚儀測(cè)量系統(tǒng)利用薄膜干涉光學(xué)原理，對(duì)薄膜進(jìn)行厚度測(cè)量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。TF200根據(jù)反射回來(lái)的干涉光，用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速反演計(jì)算出薄膜的厚度。測(cè)量范圍1nm-3mm，可同時(shí)完成多層膜厚的測(cè)試。對(duì)于100nm以上的薄膜，還可以測(cè)量n和k值。

　　反射式膜厚儀的技術(shù)功能：

　　微電腦控制系統(tǒng)，大液晶顯示、PLC操作面板，方便用戶(hù)進(jìn)行試驗(yàn)操作和數(shù)據(jù)查看。

　　嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的接觸面積和測(cè)量壓力，同時(shí)支持各種非標(biāo)定制。

　　測(cè)試過(guò)程中測(cè)量頭自動(dòng)升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差。

　　支持自動(dòng)和手動(dòng)兩種測(cè)量模式，方便用戶(hù)自由選擇。

　　系統(tǒng)自動(dòng)進(jìn)樣，進(jìn)樣步距、測(cè)量點(diǎn)數(shù)和進(jìn)樣速度等相關(guān)參數(shù)均可由用戶(hù)自行設(shè)定。

　　實(shí)時(shí)顯示測(cè)量結(jié)果的較小值、平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù)，方便用戶(hù)進(jìn)行判斷。

　　配置標(biāo)準(zhǔn)量塊用于系統(tǒng)標(biāo)定，保證測(cè)試的精度和數(shù)據(jù)一致性。

　　系統(tǒng)支持?jǐn)?shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、打印等許多實(shí)用功能，方便快捷地獲取測(cè)試結(jié)果。

　　標(biāo)準(zhǔn)的USB接口，便于系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)。